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LED壽命/可靠性加速試驗系統
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LED壽命/可靠性加速試驗系統
英文名稱：IES LM-80-08 IESNA Approved Method for Lumen Maintenance Testing of LED Light Sources
產品編號：LATS-40
產品簡介：
IES LM-80-08 LED光源光通量衰減測量方法
產品編號：LATS-40
產品簡介：
IES LM-80-08 LED光源光通量衰減測量方法
產品內容
概述：
本標準是IESNA繼LM-79-08後公佈的第二個SSL產品的測試標準，通過對光源光通量衰減方式的定義，對LED預期壽命進行評估。
標準中要求：
- 輸入電壓和頻率應符合驅動器的要求；
- 電流：壽命試驗中監測電流精度：±3% ; 測量光度性能時±0.5%。
- 基座溫度：光度測量應在在25℃、55℃、85℃±2℃三個基座溫度下。
壽命測量中要求一直監測基座溫度Ts； - 額定光通量維持壽命（Lp）:
LED 光源維持它的光通量為初始光輸出的p百分數，如L70(小時)：到70%的光通量維持。
該測試系統完全滿足能源之星最新測量標準IESNA LM-80-2008的要求，可對LED封裝產品、陣列和模組等在多種不同的溫度應力條件下，即時監控測量LED樣品的光色參數、電參數及基座溫度等，實現光通量維持試驗。
- 三個試驗箱可滿足0~200℃（±0.5℃）下任意溫度應力測試。
- 輸出電壓範圍：0.0-15.0V；測試精度：1%；
- 輸出電流範圍：1.0mA-2.00A；測試精度：0.5%；
- 光譜範圍：380nm~1000nm；
- 多路高溫光纖；
- 多路光學巡檢測試儀；
- 多路溫度巡檢測試儀；
- 多路光學探測器；
- 多路程式控制電源。
網頁設計-橘野數位設計
