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多光束的干涉（F-P掃描干涉儀）實驗
英文名稱：Multiple-beam Interference（F-P Interferometer）
產品編號：OE-1190
產品簡介：
OE-1190 多光束的干涉（F-P掃描干涉儀）實驗
產品編號：OE-1190
產品簡介：
OE-1190 多光束的干涉（F-P掃描干涉儀）實驗
產品內容
實驗內容及相關科目：
- 調整兩個反射鏡之間的位置，使之平行，成為F-P干涉儀。
- 觀察雷射在F-P干涉儀中的多光束干涉現象，瞭解F-P干涉儀的工作原理和理論。
- 改變腔長，測量計算干涉儀的特徵參數。用壓電陶瓷微調兩個反射鏡的間距，觀察其對透射光波長的掃描特性，瞭解掃描干涉儀的工作原理，觀察雷射器的頻率特性，測量計算干涉儀的特徵參數。
儀器特點：
- 可調的干涉儀腔長便於研究腔長對參數的的影響。
- 氦氖雷射器輸出功率≥0.7mW 工作電流5mA。
網頁設計-橘野數位設計
