配光曲線儀積分球光譜儀-分光光譜分析儀光輻射安全評估系統車燈配光性能
回復反射器檢測系統LED壽命/可靠性加速試驗系統LED光強分佈測試儀接面溫度和熱阻測量系統平面顯示器光電性能檢測系統標準安定器多功能光度計光學教學實驗儀器光學實驗機械
光學實驗元件反射器檢測系統光學演示實驗儀器檢測設備附件
回復反射器檢測系統LED壽命/可靠性加速試驗系統LED光強分佈測試儀接面溫度和熱阻測量系統平面顯示器光電性能檢測系統標準安定器多功能光度計光學教學實驗儀器光學實驗機械
光學實驗元件反射器檢測系統光學演示實驗儀器檢測設備附件
首頁 > 產品列表 >
光學教學實驗儀器
>雷射位移計-CCD的工作原理與應用實驗
雷射位移計-CCD的工作原理與應用實驗
英文名稱:
產品編號:OE-1270
產品簡介:
OE-1270 雷射位移計-CCD的工作原理與應用實驗
產品編號:OE-1270
產品簡介:
OE-1270 雷射位移計-CCD的工作原理與應用實驗
產品內容
實驗內容及相關科目:
- 陣列CCD的工作原理、驅動原理和特性,積分時間。
- 光電信號的調理。
- 信號的二值化和微分。
- 陣列CCD在尺寸測量領域的應用。
- 雷射位移計的工作原理。
儀器特點:
- 驅動時序電路可調,可觀察驅動信號、積分時間對採集信號的影響。
- 可對圖元逐個記數,體會測量原理。