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雙頻雷射實驗系統
英文名稱：
產品編號：OES-3060
產品簡介：
OES-3060 雙頻雷射實驗系統
產品編號：OES-3060
產品簡介：
OES-3060 雙頻雷射實驗系統
產品內容
實驗內容及相關科目：
- 鐳射的塞曼效應—He-Ne雷射器在縱向磁場中的塞曼分裂。
- He-Ne雷射器的增益曲線，雷射器的縱模，頻率牽引效應，雙頻的產生，雙頻雷射器的穩頻。
- 光的偏振，左旋偏振光，右旋偏振光，晶體的雙折射、1/4波片。
- 雙頻鐳射測量系統的工作原理，邁克爾遜干涉儀，光拍頻，光學多譜勒效應。偏振分光棱鏡，角錐棱鏡。
- 長度（位移）的精密測量、納米測量（需專用附件）。
- 加上專用附件還可以實現對直線性、平面度、角度、垂直度、納米位移等物理量的測量及測量信號細分等。
儀器特點：
本裝置採用進口全硬封的氦氖雷射器作為核心元件，輸出功率大於0.8mW。使用壽命大於12000小時。雙頻頻差大於700 MHz。各類光學元件獨立裝調，儘量開放。機械結構採用低矮化專門設計、製作，使系統更加穩定可靠，操作方便、舒適，相對複雜的光路原理可有效地訓練學生的動手能力和對原理的理解。從穩頻雷射器到全套測量系統的開放式組合，可供使用者根據實際情況和研究方向自由搭配實驗裝置或開發成實用系統。
網頁設計-橘野數位設計
